• 中文
  • English
图片展示

其他服务

筛选服务

筛选服务

我司具有完善的筛选实验室设备,保障产品完成筛选鉴定检验工作:
失效分析服务

失效分析服务

我司拥有完善的失效分析平台,具有先进的SEM,FIB,EDS分析能力,为客户提供晶圆级和芯片级表面缺陷扫描,定位切割,成分分析等服务: 设备支撑: -- 场发射扫描电子显微镜(SEM)Hitachi Regulus 8100,同时加装EDS(Energy Dispersive Spectrometer),可提供高分辨率表面微观结构扫描以及成分分析服务。 -- 双束聚焦离子束Thermo Fisher Scios2 Dual Beam,同时设备加装EDS(Energy Dispersive Spectrometer),可提供高分辨率表面微观结构定位切割、扫描、芯片电路修改以及成分分析服务。 --能量散射光谱仪EDS (Energy Dispersive Spectrometer):利用电子束轰击样品表面,激发物质发射出特征X射线,根据X射线波长对样品进行定性与半定量化学成分分析。
晶圆减薄划片服务

晶圆减薄划片服务

我司具有先进的SiC、SiGe、SiC基GaN晶圆减薄及划片技术能力,可以为客户提供高效率,高质量高良率的晶圆减薄及划片服务。
晶圆测试服务

晶圆测试服务

我司采用标准的WAT资料库以及PCM和SPC分析系统作为辅助,对有源和无源器件进行区全面精确的测试,提供全面可靠的数据来判断是否达到出货标准。同时将根据客户需求,提供与流片配套的晶圆产品良率测试,包括测试所需的探针卡制作等相关服务,为客户提供更全面,更快捷的测试服务。
设计辅助服务

设计辅助服务

我司依托自有氮化镓射频芯片制造工艺平台建立了完整的PDK数据库,拥有精确的元器件模型,适用于多样化的设计软件,可以为客户提供灵活的设计辅助服务: ㆍ设计套件支持现今的主流电路设计模拟软件,其中包含精确多样的元件电路模型,支持可调式元器件参数设置,使电磁模拟,电路验证更加方便快捷; ㆍ可提供快速的Layout Sign-off和Mask tape-out服务,致力于为客户加快电路设计验证时间。

版权所有 © 浙江集迈科微电子有限公司 All Rights Reserved    浙ICP备2021010214号-1    技术支持:飞色网络

Top
添加微信好友,详细了解产品
使用企业微信
“扫一扫”加入群聊
复制成功
添加微信好友,详细了解产品
我知道了