设计辅助服务
我司依托自有氮化镓射频芯片制造工艺平台建立了完整的PDK数据库,拥有精确的元器件模型,适用于多样化的设计软件,可以为客户提供灵活的设计辅助服务: ㆍ设计套件支持现今的主流电路设计模拟软件,其中包含精确多样的元件电路模型,支持可调式元器件参数设置,使电磁模拟,电路验证更加方便快捷; ㆍ可提供快速的Layout Sign-off和Mask tape-out服务,致力于为客户加快电路设计验证时间。
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失效分析服务
晶圆减薄划片服务
晶圆测试服务
设计辅助服务
失效分析服务
我司拥有完善的失效分析平台,具有先进的SEM,FIB,EDS分析能力,为客户提供晶圆级和芯片级表面缺陷扫描,定位切割,成分分析等服务: 设备支撑: -- 场发射扫描电子显微镜(SEM)Hitachi Regulus 8100,同时加装EDS(Energy Dispersive Spectrometer),可提供高分辨率表面微观结构扫描以及成分分析服务。-- 双束聚焦离子束Thermo Fisher Scios2 Dual Beam,同时设备加装EDS(Energy Dispersive Spectrometer),可提供高分辨率表面微观结构定位切割、扫描、芯片电路修改以及成分分析服务。 --能量散射光谱仪EDS (Energy Dispersive Spectrometer):利用电子束轰击样品表面,激发物质发射出特征X射线,根据X射线波长对样品进行定性与半定量化学成分分析。
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