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筛选服务
我司具有完善的筛选实验室设备，保障产品完成筛选鉴定检验工作：
失效分析服务
我司拥有完善的失效分析平台，具有先进的SEM,FIB,EDS分析能力，为客户提供晶圆级和芯片级表面缺陷扫描，定位切割，成分分析等服务：
设备支撑：
-- 场发射扫描电子显微镜（SEM）Hitachi Regulus 8100，同时加装EDS(Energy Dispersive Spectrometer)，可提供高分辨率表面微观结构扫描以及成分分析服务。 -- 双束聚焦离子束Thermo Fisher Scios2 Dual Beam，同时设备加装EDS(Energy Dispersive Spectrometer)，可提供高分辨率表面微观结构定位切割、扫描、芯片电路修改以及成分分析服务。
--能量散射光谱仪EDS (Energy Dispersive Spectrometer)：利用电子束轰击样品表面，激发物质发射出特征X射线，根据X射线波长对样品进行定性与半定量化学成分分析。
晶圆减薄划片服务
我司具有先进的SiC、SiGe、SiC基GaN晶圆减薄及划片技术能力，可以为客户提供高效率，高质量高良率的晶圆减薄及划片服务。
